|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
Detailed investigation of defect states in Erbium doped In2O3 thin films |
| Auteur: |
Ghosh, Anupam Dwivedi, Shyam Murli Manohar Dhar Chakrabartty, Shubhro Henini, Mohamed Mondal, Aniruddha |
| Verschenen in: |
Materials research bulletin |
| Paginering: | Jaargang 99 (2018) nr. C pagina's 211-218 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 69 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |