|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of stacking faults on the quality of GaN films grown on sapphire substrate using a sputtered AlN nucleation layer |
| Auteur: |
Chen, Zhibin Zhang, Jincheng Xu, Shengrui Xue, Junshuai Jiang, Teng Hao, Yue |
| Verschenen in: |
Materials research bulletin |
| Paginering: | Jaargang 89 (2017) nr. C pagina's 193-196 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |