|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the energy distribution of interface traps related to tunnel oxide degradation using charge pumping techniques for 3D NAND flash applications |
| Auteur: |
An, Ho-Myoung Kim, Hee-Dong Kim, Tae Geun |
| Verschenen in: |
Materials research bulletin |
| Paginering: | Jaargang 48 (2013) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |