|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistical simulation of self-heating induced variability and reliability with application to Nanosheet-FETs based SRAM |
| Auteur: |
Chen, Wangyong Cai, Linlin Wang, Kunliang Zhang, Xing Liu, Xiaoyan Du, Gang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 98 (2019) nr. C pagina's 63-68 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |