|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
A closed-form trapped-charge-included drain current compact model for amorphous oxide semiconductor thin-film transistors |
| Auteur: |
Yu, Fei Xu, Chuanzhong Huang, Gongyi Lin, Wei Liang, Tsair-Chun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 91 (2018) nr. P2 pagina's 307-312 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 25 gevonden artikelen
| volgende >> |