|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling and analysis of single-event transient sensitivity of a 65 nm clock tree |
| Auteur: |
Li, Yuanqing Chen, Li Nofal, Issam Chen, Mo Wang, Haibin Liu, Rui Chen, Qingyu Krstic, Milos Shi, Shuting Guo, Gang Baeg, Sang H. Wen, Shi-Jie Wong, Richard |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 87 (2018) nr. C pagina's 24-32 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |