|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of temperature and heat flux time lags on the temperature distribution in modern GAAFET structure based on Dual-Phase-Lag thermal model |
| Auteur: |
Raszkowski, Tomasz Samson, Agnieszka Zubert, Mariusz |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 86 (2018) nr. C pagina's 10-19 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |