|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
A generalized degradation model based on Gaussian process |
| Auteur: |
Wang, Zhihua Wu, Qiong Zhang, Xiongjian Wen, Xinlei Zhang, Yongbo Liu, Chengrui Fu, Huimin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 85 (2018) nr. C pagina's 207-214 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |