|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability comparison of 28 V–50 V GaN-on-SiC S-band and X-band technologies |
| Auteur: |
Gajewski, Donald A. Ganguly, Satyaki Sheppard, Scott Wood, Simon Barner, Jeff B. Milligan, Jim Palmour, John |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 84 (2018) nr. C pagina's 1-6 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |