|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Simplification of sub-gap density of states extraction method for amorphous In-Ga-Zn-O thin-film transistors by a single capacitance-voltage curve |
| Auteur: |
Wang, Weiliang Wang, Pengjun Dai, Mingzhi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 111-114 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |