|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Scalability comparison between raised- and embedded-SiGe source/drain structures for Si0.55Ge0.45 implant free quantum well pFET |
| Auteur: |
Yamaguchi, S. Witters, L. Mitard, J. Eneman, G. Hellings, G. Hikavyy, A. Loo, R. Horiguchi, N. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 157-161 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |