|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation and application of vertical NPN devices for RF ESD protection in BiCMOS technology |
| Auteur: |
Huang, Guo-Lun Fu, Wei-Hao Lin, Chun-Yu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 271-280 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |