|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop |
| Auteur: |
Gao, Bing Yang, Fan Chen, Minyou Chen, Yigao Lai, Wei Liu, Chao |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 82 (2018) nr. C pagina's 51-61 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |