Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 46 gevonden artikelen
 
 
  A brief overview of gate oxide defect properties and their relation to MOSFET instabilities and device and circuit time-dependent variability
 
 
Titel: A brief overview of gate oxide defect properties and their relation to MOSFET instabilities and device and circuit time-dependent variability
Auteur: Kaczer, B.
Franco, J.
Weckx, P.
Roussel, Ph.J.
Putcha, V.
Bury, E.
Simicic, M.
Chasin, A.
Linten, D.
Parvais, B.
Catthoor, F.
Rzepa, G.
Waltl, M.
Grasser, T.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 81 (2018) nr. C pagina's 186-194
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 46 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland