|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Compact modeling of dynamic trap density evolution for predicting circuit-performance aging |
| Auteur: |
Miura-Mattausch, M. Miyamoto, H. Kikuchihara, H. Maiti, T.K. Rohbani, N. Navarro, D. Mattausch, H.J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 80 (2018) nr. C pagina's 164-175 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |