Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 26 van 39 gevonden artikelen
 
 
  Modeling and simulation of the charge trapping component of BTI and RTS
 
 
Titel: Modeling and simulation of the charge trapping component of BTI and RTS
Auteur: Both, Thiago Hanna
Firpo Furtado, Gabriela
Wirth, Gilson Inacio
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 80 (2018) nr. C pagina's 278-283
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 26 van 39 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland