|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 66 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ tensile testing of tin (Sn) whiskers in a focused ion beam (FIB)/scanning electron microscope (SEM) |
| Auteur: |
Vallabhaneni, Renuka Izadi, Ehsan Mayer, Carl R. Kaira, C. Shashank Singh, Sudhanshu S. Rajagopalan, Jagannathan Chawla, Nikhilesh |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 79 (2017) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 66 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |