|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 66 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300°C) |
| Auteur: |
Petrosyants, Konstantin O. Kharitonov, Igor A. Lebedev, Sergey V. Sambursky, Lev M. Safonov, Sergey O. Stakhin, Veniamin G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 79 (2017) nr. C pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 66 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |