|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 87 van 87 gevonden artikelen
| Titel: |
Yield and reliability analysis of digital standard cells with resistive defects |
| Auteur: |
Huber, M. Nirschl, Th. Gstöttner, J. Heinitz, M. Zanon, Th. Maly, W. Schmitt-Landsiedel, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 8-10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 87 van 87 gevonden artikelen
| << vorige |