Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 44 van 87 gevonden artikelen
 
 
  Failure mechanisms of GaAs mesfets with Cu/refractory metallized gates
 
 
Titel: Failure mechanisms of GaAs mesfets with Cu/refractory metallized gates
Auteur: Feng, Ting
Dimoulas, A.
Christou, Aris
Constantinidis, G.
Hatzopoulos, Z.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 37 (1997) nr. 10-11 pagina's 4 p.
Jaar: 1997
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 44 van 87 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland