|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of MIS structures and thin film transistors using RF-sputtered HfO2/HIZO layers |
| Auteur: |
Hernandez, I. Pons-Flores, C.A. Garduño, I. Tinoco, J. Mejia, I. Estrada, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 75 (2017) nr. C pagina's 9-13 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |