|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Influences of silicon-rich shallow trench isolation on total ionizing dose hardening and gate oxide integrity in a 130nm partially depleted SOI CMOS technology |
| Auteur: |
Song, Lei Hu, Zhiyuan Zhang, Mengying Liu, Xiaonian Dai, Lihua Zhang, Zhengxuan Zou, Shichang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 74 (2017) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |