|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of gate-to-source/drain misalignments on source-side injection Schottky barrier charge-trapping memory cells evaluated using numerical programming-trapping iterations |
| Auteur: |
Shih, Chun-Hsing Lo, Yen-Hsiang Chen, Yu-Hsuan Tsai, Jr-Jie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 74 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |