|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Similarities of lag phenomena and current collapse in field-plate AlGaN/GaN HEMTs with different types of buffer layers |
| Auteur: |
Tsurumaki, Ryouhei Noda, Naohiro Horio, Kazushige |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 73 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |