Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Similarities of lag phenomena and current collapse in field-plate AlGaN/GaN HEMTs with different types of buffer layers
 
 
Titel: Similarities of lag phenomena and current collapse in field-plate AlGaN/GaN HEMTs with different types of buffer layers
Auteur: Tsurumaki, Ryouhei
Noda, Naohiro
Horio, Kazushige
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 73 (2017) nr. C pagina's 6 p.
Jaar: 2017
Inhoud:
Uitgever: The Authors
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland