|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit |
| Auteur: |
Mukherjee, C. Jacquet, T. Chakravorty, A. Zimmer, T. Boeck, J. Aufinger, K. Maneux, C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 73 (2017) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |