Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit
 
 
Titel: Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit
Auteur: Mukherjee, C.
Jacquet, T.
Chakravorty, A.
Zimmer, T.
Boeck, J.
Aufinger, K.
Maneux, C.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 73 (2017) nr. C pagina's 7 p.
Jaar: 2017
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland