|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
SEU reduction effectiveness of common centroid layout in differential latch at 130-nm CMOS technology |
| Auteur: |
Wang, Haibin Sheng, Ao Wang, Shiqi Bi, Jinshun Chen, Li Liu, Xiaofeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 72 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |