|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Fast and accurate method of lifetime estimation for HfSiON/SiO2 dielectric n-MOSFETs under positive bias temperature instability |
| Auteur: |
Roh, Giyoun Kim, Hyeokjin Kim, Cheolgyu Kim, Dongwoo Kang, Bongkoo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 72 (2017) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |