|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Development and application of the Oxide Stress Separation technique for the measurement of ONO leakage currents at low electric fields in 40nm floating gate embedded-flash memory |
| Auteur: |
Dobri, Adam Jeannot, Simon Piazza, Fausto Jahan, Carine Coignus, Jean Perniola, Luca Balestra, Francis |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 69 (2017) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |