|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Total Ionizing Dose, Random Dopant Fluctuations, and its combined effect in the 45nm PDSOI node |
| Auteur: |
Chatzikyriakou, Eleni Redman-White, William Groot, C.H. De |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 68 (2017) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| << vorige |