|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A new meshing criterion for the equivalent thermal analysis of GaAs PHEMT MMICs |
| Auteur: |
Xu, Xiuqin Mo, Jiongjiong Chen, Wei Wang, Zhiyu Shang, Yongheng Wang, Yang Zheng, Qin Wang, Liping Huang, Zhengliang Yu, Faxin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 68 (2017) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |