|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
A Wiener process model for accelerated degradation analysis considering measurement errors |
| Auteur: |
Li, Junxing Wang, Zhihua Liu, Xia Zhang, Yongbo Fu, Huimin Liu, Chengrui |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 65 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |