|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
A hybrid prognostics approach for MEMS: From real measurements to remaining useful life estimation |
| Auteur: |
Skima, H. Medjaher, K. Varnier, C. Dedu, E. Bourgeois, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 65 (2016) nr. C pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 40 gevonden artikelen
| volgende >> |