Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 75 van 136 gevonden artikelen
 
 
  Impact of work function of the silicon bottom-gates on electrical instability in InGaZnO thin film transistors
 
 
Titel: Impact of work function of the silicon bottom-gates on electrical instability in InGaZnO thin film transistors
Auteur: Jang, Hyun Jun
Yu, Chong Gun
Park, Jong Tae
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 5 p.
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 75 van 136 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland