|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 70 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Ga contamination in silicon by Focused Ion Beam milling: Dynamic model simulation and Atom Probe Tomography experiment |
| Auteur: |
Huang, J. Loeffler, M. Moeller, W. Zschech, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 70 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |