|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 49 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of voltage stress on the single event upset (SEU) response of 65nm flip flop |
| Auteur: |
Chua, C.T. Ong, H.G. Sanchez, K. Perdu, P. Gan, C.L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 49 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |