|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 131 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
The radiation test based assessment of process quality and reliability for conventional 65-nm CMOS technology |
| Auteur: |
Kessarinskiy, L.N. Davydov, G.G. Boychenko, D.V. Artamonov, A.S. Nikiforov, A.Y. Yashanin, I.B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 131 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |