|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 127 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the stability of e-mode GaN HEMTs with p-GaN gate based on combined DC and optical analysis |
| Auteur: |
Rossetto, Isabella Meneghini, Matteo Rizzato, Vanessa Ruzzarin, Maria Favaron, Andrea Stoffels, Steve Van Hove, Marleen Posthuma, Niels Wu, Tian-Li Marcon, Denis Decoutere, Stefaan Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 127 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |