|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 108 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Potentiality of healing techniques in hot-carrier damaged 28nm FDSOI CMOS nodes |
| Auteur: |
Bravaix, A. Cacho, F. Federspiel, X. Ndiaye, C. Mhira, S. Huard, V. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 108 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |