|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate lifetime prediction for channel hot carrier stress on sub-1nm equivalent oxide thickness HK/MG nMOSFET with thin titanium nitride capping layer |
| Auteur: |
Luo, Weichun Yang, Hong Wang, Wenwu Xu, Yefeng Tang, Bo Ren, Shangqing Xu, Hao Wang, Yanrong Qi, Luwei Yan, Jiang Zhu, Huilong Zhao, Chao Chen, Dapeng Ye, Tianchun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 62 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| volgende >> |