|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of reliability degradation behaviors of LDMOS and LDMOS-SCR ESD protection devices |
| Auteur: |
Yu, Zhihui Jin, Hao Dong, Shurong Wong, Hei Zeng, Jie Wang, Weihuai |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 61 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |