|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
The variation of the leakage current characteristics of W/Ta2O5/W MIM capacitors with the thickness of the bottom W electrode |
| Auteur: |
Yu, D.Q. Lau, W.S. Wong, Hei Feng, Xuan Dong, Shurong Pey, K.L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 61 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |