|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
A transient noise simulation model for the analysis of the optimal number of stages of the analog accumulator in TDI CMOS image sensors |
| Auteur: |
Nie, Kaiming Li, Jianxin Gao, Zhiyuan Xu, Jiangtao |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 60 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |