|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Improvement of reliability for high-ohmic Cr–Si thin film resistors in a heat and humid environment: Removing moisture source by electrocatalytic decomposition of water |
| Auteur: |
Wang, X.Y. Cheng, Q. Ma, X.P. Zhang, H. Li, M.X. Chen, T.N. Zhang, P. Shao, J.Q. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 60 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |