Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 46 van 94 gevonden artikelen
 
 
  Input power induced thermal effects related to transition time between avalanche and second breakdown in p-n silicon junctions
 
 
Titel: Input power induced thermal effects related to transition time between avalanche and second breakdown in p-n silicon junctions
Auteur:
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 6 (1967) nr. 3 pagina's 1 p.
Jaar: 1967
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 46 van 94 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland