|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Drain current model for double-gate tunnel field-effect transistor with hetero-gate-dielectric and source-pocket |
| Auteur: |
Wang, Ping Zhuang, YiQi Li, Cong Jiang, Zhi Liu, YuQi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 59 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |