|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature dependent Young's modulus and quality factor of CMOS-MEMS resonator: Modelling and experimental approach |
| Auteur: |
Jan, Mohammad Tariq Ahmad, Farooq Hamid, Nor Hisham B. Md Khir, Mohd Haris B. Ashraf, Khalid Shoaib, Muhammad |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 57 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |