|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Monitoring chip fatigue in an IGBT module based on grey relational analysis |
| Auteur: |
Zhou, Shengqi Zhou, Luowei Yu, Litao Liu, Sucheng Luo, Quanming Sun, Pengju Wu, Junke |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |