|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 171 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of 0.25μm GaN HEMTs under high temperature stress test |
| Auteur: |
Dammann, M. Baeumler, M. Brückner, P. Bronner, W. Maroldt, S. Konstanzer, H. Wespel, M. Quay, R. Mikulla, M. Graff, A. Lorenzini, M. Fagerlind, M. van der Wel, P.J. Roedle, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 171 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |