|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 171 gevonden artikelen
| Titel: |
A unified multiple stress reliability model for microelectronic devices — Application to 1.55μm DFB laser diode module for space validation |
| Auteur: |
Bensoussan, A. Suhir, E. Henderson, P. Zahir, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 171 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |