|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 164 van 171 gevonden artikelen
| Titel: |
Top-down delayering to expose large inspection area on die side-edge with Platinum (Pt) deposition technique |
| Auteur: |
Yap, H.H. Tan, P.K. Low, G.R. Dawood, M.K. Feng, H. Zhao, Y.Z. He, R. Tan, H. Zhu, J. Liu, B. Huang, Y.M. Wang, D.D. Lam, J. Mai, Z.H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 164 van 171 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |